产品名称:
C测试仪 3506-10产品价格:
0.00 市场价:0.00产品货号:
P001403产品型号:
C测试仪 3506-10产品品牌:
日置产品概述:
C、(tan δ), Q测试,低电阻测量 测试源频率:1kHz,1MHz 测量时间:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB● 根据BIN的测定区分容量
基本参数
测量参数
C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围
C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率
1kHz, 1MHz
测量信号电平
500mV, 1V rms
输出电阻
1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间
1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能
BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1
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